Знания: Методов и основ статистического управления процессами (SPC), анализа воспроизводимости (Cp, Cpk), планирования эксперимента (DOE) для отладки рецептов, и, для расчёта процента выхода годных, выявления трендов ухудшения параметров. Требований стандартов AEC-Q101, IEC 60747 в части технологических ограничений (управление температурными профилями, чистота поверхности, контроль дефектов, влияющих на надёжность); Принципов управления производственными данными (MES, SPC-системы) и ведения технологической документации (маршрутные карты, операционные карты, инструкции); Физико-химические основы процессов изготовления структур силовой электроники на кремнии и карбиде кремния (диффузия, ионная имплантация, окисление, эпитаксия, металлизация, пассивация); Технологические особенности высоковольтных приборов (1200В+) (требования к глубине p-n-переходов, удельном сопротивлении эпитаксиальных слоёв, профилям легирования, управлению полевыми кольцами и защитными структурами); Параметры и режимы работы основных единиц оборудования – температурные зоны, потоки газов, дозы имплантации, времена процессов, влияние на распределение дефектов и механические напряжения в пластинах; Требований к управлению изменениями в технологических процессах (особенно при замене конструкционных материалов (подложки, газы, мишени)); Методов контроля качества технологических операций: профилометрия, четырехзондовый метод контроля сопротивления, микроскопия (оптическая, SEM), измерения электрических параметров; Методологии разработки и оптимизации технологических маршрутов с учётом требований к надёжности и воспроизводимости, включая планирование эксперимента (DOE); Основ управления проектами строительства и модернизации ЧПП (требования к чистоте воздуха, температуре, влажности и т.п); Методов быстрой диагностики и локализации брака – корреляция параметров электрических измерений с технологическими отклонениями.